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泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀的詳細(xì)資料:
泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀
Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度測量儀被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。Surtronic Duo II 可用于評(píng)估地面的安全性,也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用,并且只需很少的培訓(xùn)。Surtronic Duo II 數(shù)字式表面粗糙度測量儀專門用于測量表面粗糙度,可與 HSE 滑倒評(píng)估軟件結(jié)合使用,以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測量儀的分辨率為 0.01 µm(0.4 µin),采用的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為 ISO 4287。
Surtronic Duo II 是一種高級(jí)便攜式表面粗糙度測量儀,只需按一鍵即可測量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池,便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度儀
Surtronic Duo II 的特點(diǎn):
測量 - 觸覺測量按鈕,適用難測到的位置
分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置,分為顯示/控制裝置和驅(qū)動(dòng)裝置兩部分
金剛石測針和壓電傳感器 - 帶金剛石堅(jiān)固耐磨的壓電傳感器測針,確保測量結(jié)果的可靠性。
藍(lán)牙技術(shù) - 在驅(qū)動(dòng)裝置和顯示/控制裝置之間進(jìn)行快速可靠的通信
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SURTRONIC DUO是英國泰勒公司 新型粗糙度儀,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra , Rz 兩種參數(shù)。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進(jìn)行測量。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進(jìn)行測量,其設(shè)計(jì)可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可